AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)
簡要描述:全新發(fā)布的AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī) AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢,實(shí)現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對樣品進(jìn)行多模態(tài)(SEM 及 AFM 形貌、元素、機(jī)械、電學(xué)、磁學(xué))關(guān)聯(lián)分析。
產(chǎn)品型號: AFM-in-Phenom XL
所屬分類:原子力掃描電鏡聯(lián)用
更新時間:2024-12-26
廠商性質(zhì):其他
品牌 | Phenom 飛納電鏡 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
---|---|---|---|
產(chǎn)品新舊 | 全新 | 分辨率 | 0.2nm×0.2nm×0.04nm |
AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)
全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢,實(shí)現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對樣品進(jìn)行多模態(tài)(SEM 及 AFM 形貌、元素、機(jī)械、電學(xué)、磁學(xué))關(guān)聯(lián)分析。
· 設(shè)備掃描范圍(開環(huán)):100μm×100μm×20μm
· 設(shè)備掃描范圍(閉環(huán)):80μm×80μm×16μm
· 分辨率:0.2nm×0.2nm×0.04nm
· 最大樣品尺寸:21mm×11mm×8mm
· 最大樣品重量:100g
· 成像模式:表面形貌和粗糙度、CAFM、KPFM、FMM、PFM、EFM、F-z curves、I-V curves等
飛納電鏡——復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司,2012年創(chuàng)立于上海,為高校、企業(yè)和研究所提供臺式掃描電子顯微鏡,產(chǎn)品包含:臺式場發(fā)射掃描電鏡、CeB6 燈絲系列臺式掃描電鏡、Particle X 系列全自動掃描電鏡以及掃描電鏡樣品制備設(shè)備——離子研磨儀等。
飛納電鏡還提供與臺式掃描電鏡相關(guān)的技術(shù)支持和測試服務(wù)。我們一直專注顯微技術(shù),致力于實(shí)現(xiàn)掃描電鏡平民化。飛納電鏡為用戶提供從掃描電鏡基礎(chǔ)理論到 Level 5 應(yīng)用工程師的進(jìn)階培訓(xùn),在上海、北京、廣州、成都設(shè)立了測試中心和售后服務(wù)中心,目前飛納電鏡在中國已經(jīng)擁有超過 2000 名用戶。
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